Набор данных предназначен для разработки, настройки и объективной оценки методов автоматического выявления и локализации дефектов на изображениях изделий электронного монтажа без использования примеров дефектов на этапе обучения. Данные собраны в условиях, имитирующих реальные задачи промышленного визуального контроля, с пиксельно-точной разметкой областей аномалий в тестовой выборке.

Изображения узла с транзистором и его выводами; фиксируются дефекты геометрии и расположения элементов (выводов и корпуса) транзисторной сборки. Съёмка выполнена при контролируемом освещении с использованием телецентрической оптики; каждый снимок соответствует отдельному физическому экземпляру.

Выявление дефектов на промышленных изображениях (Транзистор)

4/5

Опубликовано 15.09.2025

Главная

Наборы данных

Транзистор

bent_lead — погнутый вывод (10 изображений);
cut_lead — обрезанный вывод (10 изображений);

damaged_case — повреждённый корпус (10 изображений);
misplaced — смещение/неправильное расположение транзистора (10 изображений).

Обучающие изображения (без дефектов)

Тестовые изображения (без дефектов)

Объём и основные характеристики по набору данных «Металлическая гайка»:

Каждый тип дефекта представлен отдельным подкаталогом в test/; в скобках указан перевод. Количество изображений по каждому типу приведено по официальной спецификации:

Типа дефектов

Размеченных дефектных областей

Тестовые изображения (с дефектами)

пикселя; изображения — цветные.